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Coleção The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Encadernação Outro formato livro
INTEGRATED CIRCUIT DEFECT-SENSITIVITY: THEORY AND COMPUTATIONAL MODELS

Pineda De Gyvez, José

SPRINGER

9781461363835

NÚMERO DA COLEÇÃO: 208

Idioma: INGLES

Coleção The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Encadernação Outro formato livro